Technology
Semiconductor Metrology
- 01 비침습 광학 이미징 방법을 통한 실리콘 기판 결함 측정
- 02 1 um 이하의 광학 분해능
- 03 자동 초점/기울어짐 보정
- 04 광범위(stiching) 이미징
(주)파이큐랩
업체명 : (주)파이큐랩 ㅣ 사업자등록번호 : 758-86-03134 ㅣ 대표자 : 양태석주소 : 서울 성북구 안암로 145 고려대학교 아산이학관 122호E-mail : danielyang@korea.ac.kr
ⓒ (주)파이큐랩 All rights reserved.
